白光干涉儀

       白光干涉測(cè)量專用于非接觸式快速測(cè)量，精密零部件之重點(diǎn)部位的表面粗糙度、平面度、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、面形輪廓及臺(tái)階段差尺寸，其測(cè)量精度可以達(dá)到納米級(jí)！目前，在3D測(cè)量領(lǐng)域，白光干涉儀是精度最高的測(cè)量?jī)x器之一。

技術(shù)特點(diǎn)

白光干涉作為一種廣泛應(yīng)用的三維表面形貌測(cè)量技術(shù)，其縱向分辨率可達(dá)到亞納米級(jí)別。

視場(chǎng)內(nèi)信息采集與數(shù)據(jù)處理同時(shí)進(jìn)行，大面積區(qū)域的高度信息采集時(shí)間短。

多用于科學(xué)研究與質(zhì)量管理領(lǐng)域，典型應(yīng)用包括不同表面粗糙度樣品的三維表面形貌測(cè)量（如晶片結(jié)構(gòu)、鏡面、玻璃與金屬）、臺(tái)階高度測(cè)定和曲面精度測(cè)量（如微型透鏡）。

Smart系列白光干涉三維輪廓儀創(chuàng)新性地整合白光干涉技術(shù)，自主研發(fā)的SmartWLI 軟件可以對(duì)整個(gè)測(cè)量過(guò)程進(jìn)行監(jiān)測(cè)與控制。

其核心算法基于長(zhǎng)期研發(fā)與測(cè)量經(jīng)驗(yàn)，具備高效、穩(wěn)定、精度高等特點(diǎn)。

SmartWLI軟件，用于形貌測(cè)量及通過(guò)直接接口輸出三維數(shù)據(jù)進(jìn)入MountainsMap圖片形貌圖片處理軟件，包括文件編制MountainsMap圖片形貌軟件，用于圖片處理，數(shù)據(jù)分析與生成報(bào)告。

廣泛的運(yùn)用領(lǐng)域：

白光干涉優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)： 

1， 非接觸測(cè)量 ：      非接觸三維表面輪廓測(cè)量。

2， 重復(fù)性好：           噪音小，測(cè)量重復(fù)性好。

3， 納米級(jí)分辨率：    Z軸分辨率最高可達(dá)0.1nm

4， 點(diǎn)云數(shù)量多：       測(cè)量的點(diǎn)云數(shù)多：一個(gè)面最多可以達(dá)到500萬(wàn)個(gè)點(diǎn)。

5， XY分辨率小：      點(diǎn)間距小，XY分辨率高，大范圍內(nèi)可高精度測(cè)量。

6， 視野范圍大：       多種視野范圍可供選擇，快速切換物鏡變換視野。

7， 測(cè)量速度快：       采集速度、處理和輸出數(shù)據(jù)速度快。

8， 可在線測(cè)量 ：          測(cè)量速度快，可實(shí)現(xiàn)在線高速檢測(cè)。

9， 角度特性好：       超越傳統(tǒng)角度極限，可以測(cè)量更大傾斜角的產(chǎn)品，漫反射面可測(cè)接近90度的斜面。

10，軟件功能強(qiáng)大：    軟件包MountainsMap強(qiáng)大的分析軟件功能可用于復(fù)雜的測(cè)量任務(wù)，如粗糙度，表面結(jié)構(gòu)，微觀幾何形狀和輪廓。 自動(dòng)化有多種選擇：可使用SDK，I/O模塊和幾條工業(yè)產(chǎn)線解決方案。

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