測(cè)試儀由測(cè)試主機(jī)、測(cè)試工業(yè)溫度擴(kuò)展機(jī)、測(cè)試功能擴(kuò)展板、芯片封裝適配器以及相關(guān)的配件組成。可進(jìn)行芯片質(zhì)量分析與可靠性測(cè)試，以及老化、篩選等試驗(yàn)。
鈣鈦礦形成的原位監(jiān)測(cè)旋涂結(jié)果...
MORE+
LayTec公司的InspiRe測(cè)量系統(tǒng)，用于通過(guò)光譜反射測(cè)量原位監(jiān)測(cè)···...
MORE+
PearlL是一個(gè)光學(xué)在線監(jiān)測(cè)系統(tǒng)，能夠測(cè)量太陽(yáng)能電池制造過(guò)程中各層的···...
MORE+
LayTec公司開發(fā)了一套在線監(jiān)測(cè)系統(tǒng)，能夠測(cè)量整個(gè)太陽(yáng)能電池制造過(guò)程···...
MORE+電話
021-68680803
郵 箱：jianping.zheng@dayk.com.cn
手 機(jī)：13701746963
地 址：（華東）上海市浦東新區(qū)滬南路2419弄31號(hào)906室（復(fù)地萬(wàn)科活力城A906室） （華南）廣東省東莞市御豪軒科技大廈一棟405
Copyright ? 2018-2020 上海岱珂機(jī)電設(shè)備有限公司 All Rights Reserved. 技術(shù)支持：盤朧網(wǎng) 備案號(hào)：滬ICP備19023602號(hào)-1
