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芯片測試儀的觸點(diǎn)檢測

發(fā)布日期:2021-12-17    瀏覽次數(shù):1592

芯片測試儀的觸點(diǎn)檢測

測試儀由測試主機(jī)、測試工業(yè)溫度擴(kuò)展機(jī)、測試功能擴(kuò)展板、芯片封裝適配器以及相關(guān)的配件組成。

可進(jìn)行芯片質(zhì)量分析與可靠性測試,以及老化、篩選等試驗(yàn)。

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